Mitutoyo日本三丰数显卡尺日本三丰573系列低测力数显卡尺
公制型:绝对原点型低测力数显卡尺
测量范围
货 号
分辨率
精 度
0-180mm
573-191-10
0.01 mm
±0.05mm
公制/英制型:绝对原点型低测力数显卡尺
测 量 范 围
分 辨 率
0-180mm/0-7”
573-291-10
0.01mm/.0005”
±.002”
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