测之宝石英晶片频率分选仪
GY-3010A晶片频率分选仪
GY-3020晶片频率分选仪
GY-3020A晶片频率分选仪
本系列产品用于1～60MHz范围内石英晶片的谐振频率和晶片活力大小的测量和分选。
GY-3010A晶片频率分选仪
采用π网络电路，可根据激励电流的大小来进行晶片活力大小的分选。
频率测量范围： 1～60MHz（分六档）。
七位频率显示。
GY3010A晶片频率分选仪详细资料
概述：
GY3010A晶片频率分选仪是用于测量1~60MHZ频率范围内石英晶体白片的谐振频率，频率由频率计直接显示（GY3010型须外接频率计），测试方便、准确。适用于石英晶体厂家生产线上测试白片。
使用环境：
a.环境温度：0~40℃；
b.相对湿度：（20~90）%；
c.大气压强：86~106 kPa。
安全组别：属GB4793《电子测量仪器安全要求》中Ⅱ类安全仪器。
使用电源：220V±10%，50Hz。
消耗功率：小于8 VA。
外形尺寸：270mm（宽）× 130mm（高）× 310mm（深）。
重量：约5 kg。
技术参数：
频率范围：1~60 MHz。
频段划分：
1~2.2 MHz
2.2~5 MHz
5~10 MHz
10~20 MHz
20~40 MHz
40~60 MHz
频率计测量准确度：± 5×10 -6 。
时基稳定度：3×10–6／日 [可选配高稳定度的恒温晶振（1~5）×10 –8／日]。
GY-3020晶片频率分选仪
采用宽频振荡电路，操作简便。
频率测量范围： 1～45MHz（分五档）。
六位频率自动快速显示。
GY-3020A晶片频率分选仪
一体化机箱，带条片测试架，适合研磨或条片的测试。
频率测量范围： 1～45MHz（分五档）。
六位频率自动快速显示。
GY3020A晶片频率分选仪详细资料
概述
GY3020晶片频率分选仪是用于测量1~45MHZ频率范围内石英晶体白片的谐振频率，频率由频率计显示，测试方便、准确。适用于石英晶体厂家生产线上测试白片。
使用环境：
a. 环境温度：0~40℃；
b. 相对湿度：（20~90）%；
c. 大气压强：86~106 kPa。
安全组别：属GB4793《电子测量仪器安全要求》中Ⅱ类安全仪器。
使用电源：220V±10%，50±1Hz。
消耗功率：小于6VA。
外形尺寸：
240mm（宽）×105mm（高）×300mm（深） （分体机）
150mm（宽）×85mm （高）×230mm（深） （连体机）
重量：约2.3 kg。
