HABER-100C X荧光镀层测厚仪
一、应用领域
HABER-100C是一款经济、实用、操作简便的X射线荧光光谱仪，适用于：
五金、接插件、电气连接器电镀，PCB电镀，塑料、ABS、镁铝合金电镀；含量普通的合金材料分析。镀液分析。
镀层厚度检测
五金、接插件、电气连接器电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP、SnPb合金、SnCu合金、ZnNi合金、AuPdNi合金等；
PCB电镀Au、Ag、Cu、Ni、NiP、SnPb合金等
塑料、ABS、镁铝合金电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP等
合金材料分析
不锈钢中的Fe、Cr、Ni、Mo等成分
黄铜中的Cu、Zn、Pb等成分
磷铜中的Cu、Zn、Sn、Pb等成分
焊锡中的Sn、Pb等成分
镀液分析
电镀液中Au、Ag、Cu、Ni、Cr、Zn、Sn的主盐的浓度
二、产品特点
1、从K到U的快速元素分析、金属镀层厚度检测
2、检测灵敏度0.01%到100%；镀层0.01um到40um
3、测量时间短，每个测量只需10-60秒
4、15-20 倍彩色CCD系统用于样品图像观察
5、有多种形状和多种规格的准直器可供选用
6、大窗口正比计数器，提高测量稳定性
7、机械结构简单，可靠
8、FP基本算法软件
9、灵活的应用分析软件
10、仪器安装简单、快速
三、技术指标
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高压发生器
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输入电压
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24VDC±10%
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输出电压
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0-50kV
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输出电流
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0-1.0mA
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输出精度
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0.01%
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备注
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有自动软件侦测功能
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X射线管
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X射线管靶材
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W靶、Rh、Mo、Ag、Cr靶材可选
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X射线管窗口
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Be窗
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电气参数
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50W、4-50kV，0-1000uA
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冷却方式
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硅脂冷却
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使用寿命
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15000-20000h
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探测器
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检测范围
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AlPPP13PPP-UPPP92PPP
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分辨率
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FWHM<760eV
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探测窗口
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铍窗，窗口面积：400mmPPP2PPP
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镀层测厚指标
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分析范围
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0.01um—40um
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第一层精密度/准确度
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相对标准差5%以下（厚度大于0.5um时）
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第二层精密度/准确度
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相对标准差10%以下（厚度大于0.5um时）
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谱处理系统
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处理器类型
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全数字化32-bit3 DSP
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谱通道数
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256，512，1024，2048可供选择
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计数率
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大于100000cps
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能量范围
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1400eV-40960eV
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死时间
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<3%
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光路系统和样品观测
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准直器系统
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单一准直器φ0.1mm
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对焦系统
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激光对焦系统
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滤光器
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多种滤光器(Ni、Cu、Mo、Al、Ti)可供选择
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样品观察系统
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500万象素高清CCD摄像头，20倍光学变焦。
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样品室
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样品室内部空间（mm）
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（宽×高×深）：450×160×400mm
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样品台尺寸
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（宽×深）：250×275mm
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样品台承载重量
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≤5kg
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试验样品最大尺寸
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宽×高×深：440×150×390mm。
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样品台控制方式
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全自动样品台
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工作台移动技术数据
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X=200±5、Y=200±5、Z=80±5mm
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工作台移动精度
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0.02mm
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计算机和软件
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控制计算机
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联想品牌机T4900V，512MB内存，80G硬盘
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显示器
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联想17寸LCD显示器
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软件
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镀层测厚软件、镀液分析软件
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软件类型
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FP基本参数法软件
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谱显示
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自动峰定性，KLM标记，谱重迭比较
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重量和尺寸
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设备主体尺寸（mm）
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宽×高×深：W 580×H 600×D 715mm
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主体重量
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约60kg
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使用环境
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工作环境
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温度15-25PPP0PPPC，湿度40-70%RH
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电源系统
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单相220V±10%，工作电压在充许范围内
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其它
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1. 不要靠近产生强磁场，电场，高频等装置
2. 减少振动
3. 粉尘少，湿度低，无腐蚀性气体
4. 日光不能直射
5. 作为地震的对策，要考虑装置的固定
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四、HABER-100C X射线荧光光谱仪配置单
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序号
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部件及系统
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描述
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数量
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1
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探测器类型
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高计数率正比计数管。
FWHM<760eV
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1支
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2
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高压装置
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美国Spellman MNX50P50
功率：50W(0-50kV,0-1.0mA，连续可调)
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1台
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3
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采集系统
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前置放大器，小高压板，多道分析板
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1套
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4
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定位系统
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前后双激光定位系统
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2支
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5
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准直系统
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单一固定准直器（φ0.1mm）
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1个
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6
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观察系统
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台湾视觉美500万免驱高清USB工业相机 20倍变焦
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1支
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7
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直流电源部分
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台湾明威24V
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2台
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8
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高压光管
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W靶，25um铍窗
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1支
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9
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机械部分
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1.中心模块
2.机壳
3.相机固定架
4.激光管固定架
5.防辐射玻璃
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1套
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10
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电脑
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1台
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11
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操作系统
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Windows XP
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1套
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12
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应用软件
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镀层测厚软件TH5.0，最大六层，首层精度相对误差（5%，0.5um）&（3%，8um），免费升级服务。
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1套
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